Chroma 3280 測(cè)試分類機(jī)為所有的SD卡類產(chǎn)品帶來了一 個(gè)創(chuàng)新的測(cè)試方法，而這高效率的測(cè)試方法也為 客戶帶來大幅降低生產(chǎn)成本的好處。此外，小機(jī) 臺(tái)的設(shè)計(jì)更可節(jié)省機(jī)臺(tái)于測(cè)試廠之占地面積。整合了測(cè)試機(jī)臺(tái)與自動(dòng)分類機(jī)的功 能，并采用創(chuàng)新的設(shè)計(jì)，滿足采用KGD生產(chǎn)的SD 卡類產(chǎn)品的測(cè)試需求，不論是在機(jī)臺(tái)的成本或是 體積上，都比傳統(tǒng)的測(cè)試機(jī)臺(tái)來的大幅降低，因 此也就能夠相對(duì)地大幅降低測(cè)試的成本。

SD卡類制造商了解在SD卡的制程 中必須采用Known Good Die(KGD)來進(jìn)行生產(chǎn)。 其主要的原因，乃是因?yàn)椴捎肒GD生產(chǎn)的SD卡類 產(chǎn)品，將可減少在成品測(cè)試中對(duì)于測(cè)試項(xiàng)目的要 求，只需針對(duì)成品封裝過程中所可能產(chǎn)生的瑕疵 進(jìn)行檢測(cè)，而不需要再對(duì)整個(gè)晶片進(jìn)行完整的測(cè) 試。

Chroma 3280 測(cè)試分類機(jī)的特色：

• 整合SD卡測(cè)試機(jī)與自動(dòng)分類機(jī)功能
• 平行測(cè)試120個(gè)micro SD卡
• Test-In-Tray
• UPH = 5400 (以70秒的測(cè)試時(shí)間為例)
• 支援SD卡資料通訊協(xié)定
• 支援DC參數(shù)量測(cè)功能
• Microsoft Windows XP OS
• 提供Tray Map與分類結(jié)果資訊
• 小機(jī)臺(tái)體積 : 164cm x 79cm x 180cm
• 選配設(shè)備
• 3rd Party測(cè)試模組整合
• Mini SD, SD與MMC的測(cè)試介面